国产粒纳米粒度仪如何进行光路对中？

目前国产粒纳米粒度仪采用的都是两维对中系统，一般采用步进电机通过轴套来带动移动尺来提供动力。

步进电机和轴套、轴套和移动尺之间都是通过顶丝连接，导致三个器件的中心不在一条直线上，且移动尺正转和反转的之间的空转间隙较大，导致对中系统不稳定，不能快速而准确地完成对中，现有对中系统都没有限位系统，如果光路本身出现问题，对中系统就会出现误判断，一直朝着一个方向运动损坏机械传动组件。

针对现有技术的不足，瑞芯智造（深圳）提供一种设计合理、结构简单紧凑、使用方便的三维自动对中系统。

1、为了提高对中系统的精准度，减小空转长度，采用带丝杠的步进电机作为动力部件。

2、为了提高对中系统的稳定性，采用消隙的滑轨作为机械传动组件的核心部件。

3、为提高对中速度和防止出现误操作，采用光电传感器与限位片结合的方式来限位。

新型的三维自动对中系统与现有技术相比，具有如下优越的特点：

1、实现了三维自动对中。

2、设计合理、结构简单紧凑。方便实用，可用于各型号的国产粒纳米粒度仪。

3、采用自带丝杠的步进电机和消隙滑轨结合的方式能够稳定、快速、准确地实现三维对中需求。

4、采用光电传感器与限位片结合的方式来限位，能够防止因光路问题引起的传动系统损坏。

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